Bestsellers

Революционный ультразвуковой дефектоскоп на фазированных решетках УСД-60ФР впервые совмещающий  использование классических преобразователей ФР с математической обработкой сигналов по методу цифровой фокусировки. Сбор А-сканов всех комбинаций приемных и передающих элементов (полный опрос матрицы - FMC/Full Matrix Capture) и обработка сигналов с использованием технологий полной фокусировки (TFM/Total Focusing Method) позволили  отказаться от необходимости ручной фокусировки лучей оператором на различные глубины, т.к. изображение автоматически  сфокусировано в каждую точку S-скана. 

В результате симбиоза новейших технологий в приборе массой всего 1,4 кг удалось, с использованием стандартных 16-ти элементных фазированных решеток,  получить высочайшую разрешающую способности и качество картинки, ранее доступные только на дорогих 32-х и 64-х канальных преобразователях.

Уникальная технология расчета всех лучей по геометрии призмы позволяет оператору быстро загрузить необходимое сочетание ФР преобразователя и модели призмы, получив таким образом уже предварительно просчитанную по всем лучам картину сканирования, с точными координатами отражателей по всему S-скану.

Прибор имеет специально разработанный ударопрочный корпус с классом защиты IP65. Помимо традиционных функций, дефектоскоп имеет вход 2-х координатного энкодера, позволяющий подключать различные сканеры для построения C-, B- и других сканов и TOFD развертки контролируемого участка изделия. Уникальный морозостойкий современный  экран с цветной TFT матрицей 640х480, великолепным быстродействием и широким углом обзора - это наилучший выбор для проведения работ  в полевых условиях на ярком солнце, а также при отрицательных температурах. 

Наличие конструктора сварного шва и режима учета реальной геометрии сварного соединения изделия позволяет сделать контроль удобным и наглядным. Возможность выравнивания чувствительности по всем углам, а также установки опорного уровня сигнала с привязкой к площади эталонного отражателя, позволяют сразу оценивать эквивалентную площадь дефекта.